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    适用于生产应用的高质量
    X射线检测
    QuadraTM 3 可用于高放大倍率下的高质量X射线
    检测,实现各类生产应用的质量控制。
    可检测各种制造缺陷,包括BGA、QFN和IGBT
    焊接,PTH填充,界面空洞,元器件开裂和伪造
    产品。
    *精准、*精细的查看
    清晰而易于识别的图像可快速显示缺陷。Nordson
    DAGE的 AspireTM FP 探测器由自主设计和制造,
    专用于电子样品检测。
    简单即标准
    借助Quadra独特的双倾斜轴几何结构,可以快
    捷方便地找到缺陷。可从各个角度下高放大倍
    率查看每个细节,而无需旋转样品。
    无需维修
    QuadraNTTM X射线源采用免换灯丝的专利技
    术,因此无需定期进行预防性维护工作,从而
    减少了停机时间和运行成本。
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